使用蔡司Xradia 800 Ultra X射線顯微鏡，可實現低至50 nm的空間分辨率，是基于實驗室的X射線成像系統中*高的。 隨著非破壞性3D成像在當今的突破性研究中發揮至關重要的作用，您將在基于實驗室的超高分辨率系統中體驗的性能。 創新的Xradia Ultra架構采用吸收和相位對比成像模式以及8 keV的X射線能量，采用同步加速器改造的獨特光學元件。 使用Xradia 800 Ultra，期望獲得的原位和4D功能，用于研究材料隨時間的演變，并擴展材料科學，生命科學，自然資源和各種工業應用中使用的X射線成像的極限。